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EX3手动椭圆偏振测厚仪

EX3自动椭圆偏振测厚仪是基于消光法(或称“零椭偏”)测量原理,针对纳米薄膜厚度测量领域推出的一款自动测量型教学仪器。与EM22仪器相比,该仪器采用半导体激光器作为光源,稳定性好,体积更小。EX3... ...

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查看详细 询价留言 86 010 57902270

EX2自动椭圆偏振测厚仪

EX2自动椭圆偏振测厚仪是基于消光法(或称“零椭偏”)椭偏测量原理,针对纳米薄膜厚度测量领域推出的一款自动测量型教学仪器。EX2仪器适用于纳米薄膜的厚度测量,以及纳米薄膜的厚度和折射率同时测量... ...

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